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V Curso de Microanálisis de Rayos-X en Microscopía Electrónica de Barrido

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PRESENTACIÓN
OBJETIVOS
A QUIEN VA DIRIGIDO
METODOLOGÍA
PROGRAMA
PROFESORADO
LUGAR DE CELEBRACIÓN
INSCRIPCIÓN Y PAGO
SECRETARÍA
DIRECCIÓN
COORDINACIÓN
imagen curso

           5 AL 7 DE OCTUBRE DE 2011

 

PRESENTACIÓN

La Microscopía Electrónica de Barrido y el Microanálisis por Energía Dispersiva (EDS) constituyen una herramienta básica y de especial interés en áreas de aplicación tan variadas como el control de calidad durante la fabricación de materiales, estudios de procesos de difusión, de corrosión, caracterización de contaminantes ambientales, etc. Para obtener las máximas prestaciones de estas técnicas es esencial tener un conocimiento tanto teórico como práctico. El espíritu de este curso es proporcionar a los más neófitos una visión general de la técnica y ofrecer a los más experimentados la oportunidad de profundizar en los aspectos más complejos.

Esta quinta edición del curso recoge algunas de las sugerencias del alumnado de ediciones anteriores.

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OBJETIVOS

Los objetivos que pretende el curso son:

  • Introducir a la técnica de Microanálisis por Espectroscopia de Energía Dispersiva (EDS) en Microscopía Electrónica de Barrido así como a programas de software para el análisis de resultados.
  • Adquirir conocimientos teóricos y prácticos suficientes para familiarizarse con la técnica y  poder así abordar la solución de problemas que se planteen en un futuro.
 

A QUIEN VA DIRIGIDO

Graduados universitarios que desarrollen trabajos en la industria o en laboratorios de investigación y necesiten profundizar en esta técnica.

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METODOLOGÍA

Las clases teóricas y prácticas se impartirán en inglés y español. Para un mayor aprovechamiento de las clases prácticas, los alumnos se agruparán por niveles de conocimiento. Principalmente, se hará uso de software de tratamiento de datos, mediante el cual los alumnos podrán trabajar sobre espectros EDS previamente registrados. Los alumnos no iniciados en la técnica, emplearán el microscopio electrónico de barrido para obtener los espectros EDS.

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PROGRAMA

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PROFESORADO

Las clases serán impartidas por Profesores de la Universidad Carlos III de Madrid y Personal de laboratorios de aplicaciones de FEI (Holanda)

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LUGAR DE CELEBRACIÓN

Edificio Agustín de Betancourt (Aula 1.2.C.16)

Escuela Politécnica Superior

Universidad Carlos III de Madrid

Avda. Universidad, 30

28911 Leganés. Madrid.

 

INSCRIPCIÓN Y PAGO

390 € (esta cuota incluye inscripción, documentación, comidas y cafés).

Número de Plazas Limitado: máximo 20 personas.

La selección de alumnos se realizará considerando su formación y por riguroso orden de inscripción.

La inscripción y pago (con tarjeta de crédito Visa o MasterCard) se puede efectuar a través de La Plataforma de Pagos e Inscripciones de la Universidad Carlos III de Madrid.

BECAS-AYUDA

La Sociedad de Microscopía de España (SME) va a conceder 2 becas-ayuda de 120€ entre sus socios tras la finalización del curso.

La Sociedad Española de Materiales (SOCIEMAT) también va a conceder 2 becas-ayuda de 195€ entre sus socios tras la finalización del curso.

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SECRETARÍA

Lic. Eva María Fernández Zamora.

Instituto Tecnológico de Química y Materiales Álvaro Alonso Barba

Escuela Politécnica Superior

Universidad Carlos III de Madrid

Avda. Universidad, 30. 28911 Leganés. Madrid.

Teléfonos: 91 624 88 63/ 91 624 94 84

Fax: 91 624 94 30

e-mail: emfernan@pa.uc3m.es

 

 

DIRECCIÓN

Dr. Alejandro Várez Álvarez (Universidad Carlos III de Madrid)

Tel.:+34 91 624 94 84

e-mail: alvar@ing.uc3m.es

Lic. Ana Alarcón Clemente (FEI Company)

 

COORDINACIÓN

Dra. Cristina Moral Gil (Universidad Carlos III de Madrid)

Dr. Ángel Muñoz Castellanos (Universidad Carlos III de Madrid)

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